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  • Atik VS系列 CCD高分辨率長曝光工業相機 (1460 x 1932)

    Atik VS系列 CCD高分辨率長曝光工業相機 (1460 x 1932) 產品總覽 這款柔性冷卻相機支持多種索尼CCD傳感器，滿足了大多數科學原始設備制造商和顯微鏡用戶的需求。

    更新時間：2024-12-09
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  • FS70L4 用于半導體檢測顯微鏡（顯微OCT掃頻測振）

    FS70L4 用于半導體檢測顯微鏡（顯微OCT掃頻測振） 特點 采用Mitutoyo遠場校正鏡頭 三端輸出設計可輕松接收視頻 轉盤可接最多四個物鏡

    更新時間：2024-12-09
    產品型號：
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  • FS70Z 用于半導體檢測顯微鏡 (1x-2x管鏡頭 固定光通比50/50 觀察儀)

    FS70Z 用于半導體檢測顯微鏡 (1x-2x管鏡頭 固定光通比50/50 觀察儀) 日本三豐Mitutoyo FS70 半導體檢測顯微鏡,半導體觀測顯微鏡 ,工作距離足夠長，倍數高，能夠應用在各種檢測場合和質量確認方面。搭配Mitutoyo的全系列可見光遠場校正鏡頭，顯微鏡系統的放大倍率可涵蓋20X到8000X，工作距離范圍從6到34mm。對焦目鏡可安裝直徑為25mm的測量分劃板來測量。

    更新時間：2026-08-01
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  • BladeCam2-XHR-UV CMOS基礎型光斑分析儀相機 190-1150 nm

    BladeCam2-XHR-UV CMOS基礎型光斑分析儀相機 190-1150 nm 產品總覽 ½“ CMOS 光束分析照相機，超高速USB 3.0，支持190-1605nm，通用型和高像素型可選，采用標準的無邊緣式無窗探測器結構，采用電子快門，最短曝光時間可達40 µs。BladeCam2-HR系列配備功能齊全且可定制的軟件，軟件可免費更新，許可證無需付費，并提供無限制的軟件安裝。

    更新時間：2024-12-09
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  • FS70L4-TH 用于半導體檢測顯微鏡 (1x管鏡頭 C-mount帶開關) (觀察鏡)

    FS70L4-TH 用于半導體檢測顯微鏡 (1x管鏡頭 C-mount帶開關) (觀察鏡) 應用： 切割、修整、校正、 給半導體電路做標記 薄膜(絕緣膜) 清潔與加工、液晶彩色濾光器的修復(校正錯誤)。 還可用作光學觀察剖面圖以便探針分析半導體故障。

    更新時間：2024-12-09
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